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從數據到診斷:半導體失效分析的真正價值

2026/05/29

 

 

在高科技分析檢測產業,數據報告僅是基礎,具備決策價值的「診斷方案」才是企業在技術競爭中突圍的關鍵。
閎康科技始終堅持,我們提供的不是單純的檢測數據,而是透過全方位角度解讀數據背後的真因,為客戶提供最具確定性的研發支持。

 

一、層級式診斷:精準配置分析資源

• 非破壞與電性定位(Level 1-2):如同 X 光與心電圖,透過 Thermal EMMI 或 EFA 電性量測,在不動刀的前提下確認失效模式與故障類型。
• 實體分析與材料檢測(Level 3-4):進入「手術室」透過 PFA 與 MA 技術(如 FIB、TEM),將元件一層層剖開,檢查奈米級的裂縫、空洞或成分變異。


並非所有案件都需要做到最深層,閎康的專業在於根據樣品狀況建議「最有效率」的路徑,而非一味追求複雜的測試,藉此為客戶節省成本並降低風險。

 

 

二、 跨產業的賦能價值:將材料科學轉化為產業標竿

故障診斷的邏輯在材料科學領域是相通的。閎康科技成功將半導體等級的分析能量,運用於傳統產業或新興領域,如協助紙漿產業突破受潮變質的技術瓶頸,將材料分析的「維度」從微觀晶片延伸至宏觀材料。
這種「分析一次就解決問題」的專業底氣,來自於我們對技術細節的極致追求。我們不僅協助客戶定位問題,更進一步提供製程優化與設計建議,協助合作夥伴建立更穩健的生產體系。

 

 


面對日益複雜的先進製程與異質整合挑戰,閎康科技將持續精進「故障診斷中心」的技術深度。


透過「少走冤枉路」的專業承諾,閎康不僅縮短了產品上市的時間線,更重新定義了第三方分析服務在科技創新鏈條中的戰略位置。
下次遇到解不開的難題,試著換個維度看它!